光学尺寸计量的精度标杆全新µCMM NEO隆重发布下一代光学三坐标测量系统Alicona µCMM NEO当您的零部件追求极致精度时您的计量方案也应同样卓越。马路科技基于30年光学计量经验推出全新Bruker µCMM NEO突破传统尺寸测量的局限实现更全面的测量能力。以表面形貌”的测量理念与完整的三维数据为基础帮助深入理解关键功能特征——无论是微小几何结构、自由曲面还是微孔结构均可实现更高效率、更高精度以及更深入的数据洞察。追求极致精度的计量方案µCMM NEO不仅关注尺寸更通过基于表面的分析方式实现对功能特征的真实理解——在每一分钟测量中获取更多信息为您提供更深入的零件功能性能洞察。五轴高精度系统确保在整个测量体积范围内实现最高测量精度同时尺寸、形位公差、形状和粗糙度可在一次一致的测量流程中完成评估。减少装夹复杂性无需重复定位以一体化光学平台替代多种传统测量系统。专为对精度要求极高的制造企业而打造。µCMM NEO微米级测量挑战用于微米级精密制造的光学三坐标测量系统融合多种光学测量技术与完整三维数据集成于统一平台实现从尺寸测量到功能特征表面化理解的全面跃升。为微米级精度而生超越极限专为测量最微小几何结构而设计以卓越的非接触精度满足高端精密部件的测量需求。µCMM NEO关键优势以表面为核心的计量理念每分钟获取更多测量信息。轮廓与表面一次测量完成从尺寸数据迈向对部件功能的深度理解。一体化平台一次测量完成尺寸、位置、形状与粗糙度在同一平台、一次测量流程中完成评估。替代多种传统测量系统无需重复定位。精度毫不妥协五轴高精度系统实现卓越的尺寸与位置测量精度在整个测量体积范围内保持稳定可靠。自第一代产品推出以来Bruker Alicona 的 μCMM 一直是高精密制造领域中真正的高端测量系统。Stepper 始终代表着最高精度与卓越生产力因此选择将 μCMM 应用于质量保障对我们而言是顺理成章的决定。我们深感自豪早在 2018 年便成为首家 μCMM 客户。八年后的今天我们再次作为首批用户采用 μCMM NEO延续这一成功合作——这也是双方在精密制造道路上的又一重要里程碑。Michael Stepper, Fritz Stepper GmbH 首席执行官自动化高精度光学尺寸测量µCMM NEO 搭配智能光学 3D 计量平台 MetMaX可充分发挥其性能潜力。导入 CAD 模型选择所需的 GDT 或 PMI 特征即可开始测量。MetMaX 自动生成智能测量策略在不同用户、不同部件及生产环境中提供快速、一致且可追溯的测量结果。
