光被哪一层吸收:分析并优化 a-Si 薄膜太阳能电池

光被哪一层吸收:分析并优化 a-Si 薄膜太阳能电池

对于太阳能电池,对光的总吸收不代表有效吸收,也就是说吸收的光并非都在有源层参与了光电转换。例如只有进入 a-Si 有源层的光才可能参与光电转换,ITO 中的吸收属于寄生损耗。

这篇教程使用 Dreapex TMM 的 ITO / a-Si 简化结构分析光被哪一层吸收。你将用 R/T/A 和Layer Absorption区分有源层吸收与寄生吸收,再通过厚度扫描和优化提高 400–700 nm 的 a-Si 平均吸收率。

柔性非晶硅薄膜太阳能电池可以直接与屋面材料结合。

图像来源:Maury Markowitz / Wikimedia Commons;许可:CC BY-SA 3.0;原始作品页。

区分有源层吸收与寄生吸收

非晶硅(amorphous silicon,a-Si)是本模型的有源吸收层。ITO 是透明前电极;它吸收的光通常属于寄生损耗,不能与 a-Si 吸收等同看待。

图 1|薄膜太阳能电池的典型分层结构与入射光方向。

图像来源:Radiotrefoil、美国能源部 / Wikimedia Commons;许可:公共领域;原始作品页。

本教程把图中的透明导电层简化为 ITO,把吸收层简化为 a-Si。随后使用层吸收结果区分 ITO 寄生损耗与 a-Si 有效吸收。

吸收材料的复折射率写为

n ~ = n + i k , α = 4 π k λ . \tilde n=n+\mathrm{i}k, \qquad \alpha=\frac{4\pi k}{\lambda}.n~=n+ik,α=λ4πk.

式中,n ~ \tilde nn~为复折射率,n nn为折射率实部,k kk为消光系数,i \mathrm{i}i为虚数单位,α \alphaα为吸收系数,λ \lambdaλ为真空波长。较大的k kk会使光在材料中衰减得更快;薄膜内的干涉还会改变电场分布,因此各层吸收不能只由厚度判断。

对于被动膜系,每个波长满足

R + T + A = 1 , A = ∑ j = 1 L A j . R+T+A=1, \qquad A=\sum_{j=1}^{L}A_j.R+T+A=1,A=j=1LAj.

式中,R RRT TTA AA分别为功率反射率、透射率和总吸收率,A j A_jAj为第j jj层吸收的入射功率比例,L LL为膜层数。Absorptance给出总吸收,Layer Absorption才能回答“光被哪一层吸收”。

这一判断同样适用于光电探测器、选择性吸收器和发光器件:目标层中的吸收通常有用,电极或封装中的吸收往往是损耗。

建立 ITO / a-Si 简化结构

建立空气 / ITO / a-Si / 玻璃结构。ITO 与 a-Si 使用案例库中的波长相关 n、k 教学数据,底部玻璃用常数折射率 1.52。

位置材料厚度折射率类型
顶部介质空气Constant,n = 1.00 n=1.00n=1.00k = 0 k=0k=0
第 1 层ITO80 nmFile
第 2 层a-Si200 nmFile
底部介质玻璃Constant,n = 1.52 n=1.52n=1.52k = 0 k=0k=0

图 2|ITO / a-Si 基线结构。

该模型用于学习光学吸收分配。它没有包含背电极、掺杂层、纹理和载流子输运,因此计算结果不是太阳能电池转换效率。

设置光学条件

Optics页设置 400–900 nm、5 nm 步长、0° 入射和未偏振光,并启用ReflectanceTransmittanceAbsorptanceLayer Absorption

图 3|用于观察吸收边缘和分层吸收的 Optics 设置。

400–900 nm 用于观察 a-Si 的吸收边缘;后续设计指标只验收 400–700 nm。未启用入射光谱时,波段平均值是各采样波长的算术平均,不是太阳光谱加权效率。

运行前先预测:400–700 nm 的吸收应主要发生在 a-Si 中,ITO 寄生吸收较小;增加 a-Si 厚度会继续提高有源层吸收,但增益会逐渐减小。

建立吸收基线

运行计算,先核对 R/T/A,再打开Layer Absorption

图 4|基线结构的分层吸收。

条件R RRT TTA AAITO 吸收a-Si 吸收
400–700 nm 平均14.217%8.672%77.110%0.461%76.650%
550 nm5.269%3.635%91.096%091.096%

总吸收与两层吸收之和一致,全部波长的最大能量闭合误差约为1.1 × 10 − 16 1.1\times10^{-16}1.1×1016。能量守恒证明结果完整,但只有分层结果能判断吸收是否进入了 a-Si。

扫描 a-Si 厚度

Sweep中选择a-Si Absorber → Thickness,从 100 nm 扫描到 500 nm,步长 50 nm。其他结构和光学条件保持不变。

图 5|a-Si 厚度扫描。

点击Sweep后,在Layer Absorption结果页把Layer选为a-Si Absorber。九条曲线分别对应 100–500 nm 的 a-Si 厚度。

图 6|不同 a-Si 厚度对应的有源层吸收光谱。

a-Si 厚度平均R RR平均T TT平均 a-Si 吸收率
100 nm18.000%18.594%62.949%
200 nm14.217%8.672%76.650%
300 nm12.788%4.635%82.116%
400 nm12.645%2.551%84.344%
500 nm12.837%1.433%85.270%

图 7|a-Si 加厚后,有源层吸收提高但增益逐渐减小。

a-Si 从 100 nm 增加到 500 nm 时,平均透射率从 18.594% 降到 1.433%,有源层吸收率从 62.949% 提高到 85.270%。反射率没有单调变化,而是在约 13% 附近起伏,这是膜内干涉改变电场分布的结果。

光学上更厚的 a-Si 能吸收更多光,但也增加材料用量,并可能降低载流子收集效率。厚度扫描给出光学趋势,不能单独决定真实电池的最优厚度。

直接优化有源层吸收

优化目标是 a-Si 的平均层吸收率:

A ‾ a - S i = 1 M ∑ q = 1 M A a - S i ( λ q ) . \overline{A}_{\mathrm{a\text{-}Si}} =\frac{1}{M}\sum_{q=1}^{M}A_{\mathrm{a\text{-}Si}}(\lambda_q).Aa-Si=M1q=1MAa-Si(λq).

式中,A ‾ a - S i \overline{A}_{\mathrm{a\text{-}Si}}Aa-Si为 a-Si 平均层吸收率,A a - S i ( λ q ) A_{\mathrm{a\text{-}Si}}(\lambda_q)Aa-Si(λq)为波长λ q \lambda_qλq处的 a-Si 吸收率,q qq为采样点序号,M = 61 M=61M=61为 400–700 nm、5 nm 步长下的采样点数。

Optimizer中设置:

项目设置
目标最大化 a-Si 的 Layer Absorption 平均值
波段400–700 nm,5 nm 步长
变量 1ITO 厚度,40–140 nm,起点 80 nm
变量 2a-Si 厚度,100–500 nm,起点 200 nm
算法TRF,最多 160 次评估
全局起点Grid 5 × 5,保留 3 个 Seed

图 8|直接把有源层吸收写成优化目标。

图 9|Grid 起点与 TRF 算法设置。

不要用总Absorptance代替目标。总吸收增加也可能来自 ITO,而那部分光不能进入 a-Si。

本次优化经过 72 次目标评估和 34 次迭代,得到 ITO 62.372 nm、a-Si 485.857 nm。点击Apply to Structure,再回到Structure确认厚度已经更新。

图 10|有源层吸收优化报告。

图 11|应用最优解后的结构。

用正向计算验收最优解

应用最优厚度后重新运行计算,不把优化报告直接当作最终结果。

图 12|优化结构的分层吸收。

400–700 nm 平均指标基线优化后变化
R RR14.217%8.052%−6.165 个百分点
T TT8.672%1.426%−7.247 个百分点
A AA77.110%90.522%+13.412 个百分点
ITO 吸收0.461%0.473%+0.012 个百分点
a-Si 吸收76.650%90.049%+13.399 个百分点

a-Si 平均吸收率提高了 13.399 个百分点,相对提升约 17.48%;ITO 寄生吸收几乎不变。550 nm 处,a-Si 吸收率为 96.496%,最终结果仍满足R + T + A = 1 R+T+A=1R+T+A=1

最优 a-Si 厚度接近 500 nm 上限,说明当前纯光学目标仍偏向加厚吸收层。工程设计应加入工艺膜厚、材料用量和电学收集约束,并使用真实太阳光谱加权。

变化题

在当前模型中把 a-Si 厚度改回 200 nm,再把 ITO 厚度依次设为 40、80 和 120 nm。分别记录 ITO 与 a-Si 的平均层吸收,判断总吸收的变化是否真正进入了有源层。

原文地址:https://tmm-docs.dreapex.com/zh-CN/tutorials/solar-cell-absorption