刚进fab的工程师第一天就会被术语轰炸:WAT、CP、FT、CVD、PVD、光刻、刻蚀、离子注入,一堆缩写混在一起,新人完全听不懂。我当年也是这样,前三个月处于假装听懂状态。这篇把fab核心术语体系按分类讲清楚,帮你从听不懂到能听懂、能交流、能用术语建立专业信任。
一、fab里的行话,为什么新人听不懂
刚进fab的工程师,第一天就会被术语轰炸。WAT、CP、FT、CVD、PVD、光刻、刻蚀、离子注入、退火、氧化、扩散、薄膜、金属化——一堆缩写和名词砸过来,老员工说话像在加密。我当年也是这样,前三个月基本处于听不懂状态,老员工说个缩写我都要假装听懂了点头,回去再偷偷查。
fab术语分三类:设备类、工艺类、参数类。设备类缩写最多,CVD、PVD、ICP、CCP、APC、RTP,一堆缩写混在一起。工艺类是fab里的动作,氧化、扩散、离子注入、刻蚀、沉积,每道工序都有自己的专业术语。参数类是fab里用的各种指标,良率、良率损失、CPK、UPH、OEE、 cycle time,每个词都是一整套知识体系。
术语体系不熟悉,上班听不懂老员工说话,开会看不懂文档,出了问题不知道同事在说什么。这是新人的第一关,过了这关才算真正进入半导体行业。
缩写 | 全称 | 中文 | 用途 |
WAT | |||
CP | |||
FT | |||
CVD | |||
PVD | |||
WAT | Wafer Acceptance Test | 晶圆接受测试 | 判断晶圆是否合格 |
CP | Chip Probing | 晶圆级测试 | 测试每个芯片功能 |
FT | Final Test | 最终测试 | 封装后测试 |
CVD | Chemical Vapor Deposition | 化学气相沉积 | 薄膜沉积 |
PVD | Physical Vapor Deposition | 物理气相沉积 | 薄膜沉积 |
二、芯片制造全流程术语速查
fab的核心流程从硅片进厂开始,到芯片封测出库结束,中间经历几百道工序。按制造顺序,主要分为前端工序和后端工序。前端工序包括硅片制备、外延、氧化、扩散、离子注入、薄膜沉积、光刻、刻蚀、抛光等。后端工序包括金属化、钝化、切割、CP测试、FT测试等。
前端工序里最核心的是光刻和刻蚀。光刻是把电路图案转移到晶圆表面,刻蚀是把图案刻进晶圆内部。这两道工序交替进行,每进行一次光刻刻蚀,就完成一层电路图案。先进制程可能有上百次光刻刻蚀循环,每一层都要精确对准,难度极高。
薄膜沉积是给晶圆表面涂上一层材料。CVD是化学气相沉积,用化学反应生成薄膜;PVD是物理气相沉积,用物理方式沉积薄膜。两种方式各有优劣,CVD的台阶覆盖好,PVD的纯度高。先进制程往往两种都要用。
后端工序是芯片制造的收尾。金属化是在晶圆表面形成金属互连,钝化是给芯片表面加一层保护层,切割是把晶圆切成一颗颗芯片,CP是晶圆级测试,FT是封装后测试。每一步都有严格的质量控制。
分类 | 术语数 | 学习难度 | 建议方法 |
设备类 | |||
工艺类 | |||
参数类 | |||
设备类 | 最多 | 高 | 设备手册+现场学习 |
工艺类 | 中等 | 中 | 工艺流程图+文档 |
参数类 | 中等 | 中 | 数据报表+实际案例 |
三、每个fab工程师都必须掌握的缩写
WAT是晶圆接受测试,wafer acceptance test,晶圆加工完成后在fab内进行的电性测试,判断晶圆是否符合出货标准。WAT测试点分布在晶圆不同位置,测出来的数据叫WAT数据,是判断良率和工艺状态的重要依据。WAT异常说明工艺出了问题,需要立即排查。
CP是晶圆级测试,chip probing,测试每个芯片的功能是否正常。CP在切割前进行,测出坏点后在晶圆上标记,封测时跳过坏点。CP良率是fab输出的重要指标,直接影响最终成本。
FT是最终测试,final test,芯片封装后的测试,检查封装过程有没有引入新的问题。FT良率和CP良率结合起来可以判断封装厂的良品情况。
CVD是化学气相沉积,chemical vapor deposition,用气体在晶圆表面发生化学反应生成薄膜。PVD是物理气相沉积,physical vapor deposition,用蒸发或溅射的方式把材料沉积到晶圆上。CVD的膜厚均匀性和台阶覆盖更好,PVD的纯度和附着力更好。
APC是先进过程控制,advanced process control,用模型和算法自动调整工艺参数,让工艺结果保持在目标值。APC能减少人为干预,提高工艺稳定性,是先进fab的标配。FDC是故障检测与分类,fault detection and classification,实时监控设备状态,发现异常及时报警。
阶段 | 时间 | 目标 |
第一个月 | ||
第三个月 | ||
半年 | ||
第一个月 | 术语清单 | 常见术语全部认得 |
第三个月 | 能听懂对话 | 专业交流基本无障碍 |
半年 | 熟练使用缩写 | 建立专业信任 |
四 fab术语在日常沟通中的应用
fab里的会议和沟通全靠术语。设备工程师说腔体换完了,工艺工程师说 recipe调好了,良率工程师说WAT数据出来了,PE说参数漂了需要重优化。如果术语不熟,这种对话完全听不懂。术语是进入fab语言体系的钥匙,钥匙不对,门就打不开。
新人学术语最好的方法不是背,是用。找一个老员工当语伴,日常沟通遇到不懂的词当场问,同时自己试着用术语表达。用了才能记住,被纠正了印象更深。fab的术语体系是嵌入式学习的,在使用中学比单独背效果好得多。
建议新人入厂后第一个月把fab主要设备的名称和缩写列一个清单,每天看一遍,遇到一个记一个。一个月后常见术语基本就熟了。三个月后大部分专业对话能听懂。半年后自己也能用缩写和同事交流了。
术语还有一个作用是建立专业信任。在fab里说话用缩写显得专业,同事和领导会认为你懂行。如果说话全是全称,别人会觉得你是外行。建立专业信任从术语开始。
五 fab术语与半导体产业链的衔接
fab里的术语不是孤立的,是整个半导体产业链的一部分。fab上游是硅片和设备厂商,下游是封测厂和终端客户。fab里的术语和其他环节的术语是有关联的,了解这些关联能更全面地理解行业。
fab和设计端有接口。设计端用的是RTL、网表、版图,fab用的是工艺参数、良率数据。设计端的时序和功耗优化需要结合fab的工艺能力来考虑,所以设计工程师也要了解fab术语。fab工程师也要了解设计端的需求,才能更好地理解工艺优化的方向。
fab和封测端也有接口。fab交付的是晶圆,封测厂接收后进行切割、贴片、焊线、封装、测试。fab的WAT数据和CP数据是封测厂的重要输入,fab的质量问题会传导到封测端。所以fab工程师了解封测术语有助于建立全局视野。
术语体系的建立是半导体专业素养的一部分。不只是背名词,是理解整个产业链的运作逻辑,知道每个环节在做什么、上下游之间怎么协作。具备了这种视野,才算真正进入了半导体行业。
六 fab术语学习资源与进阶路径
入门级资源是fab内部培训资料和设备手册。每个fab都有新员工培训教材,里面有术语解释和工艺流程图。设备手册是设备术语的最权威来源,每个设备型号的手册都有缩写表。这些资料是学习术语的第一手资源,比网上搜的准确。
进阶资源是行业标准和学术论文。SEMI是半导体行业的国际标准组织,SEMI标准里有大量术语定义。IEDM和VLSI会议的论文里有最新的工艺术语。这些资源适合有一定基础后深入学习。
实战资源是fab内部的问题报告和会议纪要。fab每周有生产例会、质量例会,会上会有大量术语。把会议纪要打印出来,遇到不懂的术语一个个查,这样学到的术语是和实际场景绑定的,记得更牢。
收个尾:fab术语是进入半导体制造的入场券,不是学会了才进fab,是在fab里学会的。新人不用等到术语全懂了才上岗,上岗后遇到一个学一个,遇到问题查一个,这样进步最快。半年后你会发现术语已经不是障碍,和老员工的对话已经无缝了。这个过程没有捷径,就是多用多查多问。
写在最后
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